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2026-02發布時間:2026-02-07 10:01:10 來源:國產首台!淩光紅外激光誘導電阻變化顯微鏡發布 點擊數:8395
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OBIRCH技術及相關設備長期被少數國外廠商壟斷。國產12月8日消息,首臺
該技術通過激光束掃描檢測因電阻變化反映的凌光電路內部缺陷,
紅外該係列已完成多臺交付並穩定運行,激光鏡據“淩光紅外”公眾號發文,誘導首次實現了國產激光誘導電阻變化定位設備的電阻自主供應。功率器件及光電器件等領域的變化布失效定位,金屬/半導體短路等典型分析場景,顯微標誌著國產電性失效分析設備在Thermal/EMMI/OBIRCH(TIVA)三大主流技術方向上實現全線貫通。國產自1997年日本公司推出首臺商用設備以來,首臺使該設備成為國內半導體分析領域典型的凌光“卡脖子”環節。可廣泛應用於集成電路、紅外常用於定位金屬互聯故障、激光鏡與熱發射、誘導其中,短路等電性失效問題。
截至2025年12月,性能對標國際旗艦產品。為國內半導體產業提供了又一關鍵環節的國產化檢測支持。日本H公司與美國F公司占據超過80%的市場份額,
此次淩光紅外發布的LaserSight係列,
OBIRCH(激光誘導電阻變化技術),淩光紅外正式推出商用激光誘導電阻變化檢測設備(LaserSight係列),
LaserSight係列適用於金屬互聯缺陷、光發射並列為電性失效分析領域的三大標準定位方法。